Curso: Titulado Superior, Especialista en Difracción de Rayos X, Grupo I, con Destino en la Unidad de Difracción de Rayos X y Modelización Científica

Todos los Temas
Todos los temas del curso teórico
Todos-los-temas-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [16.7 MB]
Presentación y vista de conjunto
Clase_0-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [8.3 MB]
video de busqueda de picos
Esta animación tiene que estar en el mismo directorio que Clase_0-CT.pptx
Cusac_peakhunt.avi
Archivo de vídeo [7.3 MB]
Video de PT Ewald
Este video tiene que estar en el mismo directorio que Clase_0-CT.pptx
Cusac_PTEwald.avi
Archivo de vídeo [3.4 MB]
Tema I
Rayos X. Características. Producción. Colimación y monocromatización. Detección. Seguridad. Red cristalina. Celda unidad. Sistemas cristalinos. Redes de Bravais. Dispersión y difracción de rayos X. Interacción de los rayos X con la materia. Planos e índices de Miller. Ecuaciones de Laue. Ley de Bragg. Red recíproca. Esfera de Ewald. Geometría de la difracción.
TEMA1-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [5.2 MB]
TEMA1-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [2.8 MB]
Tema II
Simetría cristalina. Elementos de simetría. Grupos puntuales. Clases cristalinas. Grupos espaciales. Extinciones sistemáticas. Factores de estructura. Síntesis de Fourier. Factores atómicos de forma. Factores de desplazamiento atómico. Ley de Friedel. Dispersión anómala. Función de Patterson. Medida y procesado de los datos. Factores de Lorenz y polarización. Absorción. Decaimiento Escalado y reducción. Estimación del error en la medida.
TemaII-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [9.5 MB]
TemaII-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [3.8 MB]
Tema III
Resolución de la estructura. Problema de la fase. Métodos directos. Métodos de Patterson. Reemplazamiento molecular. Completado de la estructura. Aplicación de las síntesis de Fourier (Fo, Fo-Fc, 2Fo-Fc). Refino de la estructura. Metodología de los mínimos cuadrados. Esquemas de pesado. Factores de acuerdo y otros indicadores del ajuste. Parámetros adicionales del ajuste. Restricciones geométricas. Extinción secundaria. Determinación de la configuración absoluta. Parámetros x de Flack e y de Hooft. Mapas de densidad electrónica. Densidad electrónica residual.
TemaIII-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [2.0 MB]
TemaIII-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [1.6 MB]
Tema IV
Estructuras desordenadas. Desorden estático y dinámico. Dispersión térmica difusa. Maclas. Pseudosimetría. Estructuras moduladas conmensuradas e inconmensuradas. Validación, interpretación y presentación de los resultados. Distancias y ángulos de enlace. Ángulos de torsión. Interacciones intra- e inter-moleculares. Desviaciones estándar. Depósito de resultados en bases de datos estructurales: Inorganic Crystal Structure DataBase (ICSD), Cambridge Crystallographic Data Centre (CCDC), Protein Data Bank (PDB).
TemaIV-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [3.2 MB]
TemaIV-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [2.1 MB]
Tema V
Patrones de difracción de polvo microcristalino. Forma de los picos. Multiplicidad. Orientaciones preferentes. Geometría de la difracción Bragg-Brentano. Haces paralelos. Procesado de datos de difracción de polvo. Corrección de fondo. Suavizado del difractograma. Contribución Kα2. Busca de picos y ajuste del perfil. Indexación. Obtención de los factores de estructura. Deconvolución de los picos. Identificación y análisis de fases cristalinas. Bases de datos. Análisis cualitativo y cuantitativo.
TemaV-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [1.7 MB]
TemaV-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [1.1 MB]
Tema VI
Método de Rietveld. Fundamentos. Clases de parámetros. Figuras de mérito y calidad del refino.Aplicación de técnicas de difracción a la determinación de la composición y la estructura de compuestos moleculares orgánicos, inorgánicos, biológicos y macromoleculares.
TemaVI-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [2.6 MB]
TemaVI-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [1.7 MB]
Tema VII
Aplicación de técnicas de dispersión al estudio y caracterización de materiales sólidos y líquidos. Técnicas reflectométricas: reflectividad de rayos X. Herramientas informáticas de adquisición y procesado de datos de difracción, dispersión y reflectividad de rayos X.
TemaVII-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [325.5 KB]
TemaVII-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [302.8 KB]
Tema VIII
Difractómetros de rayos X: descripción, uso y aspectos prácticos. Mantenimiento del equipamiento específico en un laboratorio de rayos X: generadores, recirculadores, dispositivos ópticos, goniómetros y detectores.
TemaVIII-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [5.8 MB]
TemaVIII-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [2.1 MB]
Tema IX
Técnicas avanzadas de preparación de muestras para su determinación estructural por técnicas de difracción y dispersión. Caracterización y selección de un monocristal. Luz polarizada.
TemaIX-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [1.1 MB]
TemaIX-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [632.6 KB]
Tema X
Manipulación de gases inertes a alta presión. Manipulación de líquidos criogénicos.
TemaX-CT.ppsx
Presentación Microsoft Power Point [477.5 KB]
TemaX-CT.pdf
Documento Adobe Acrobat [473.1 KB]